軸承零件過燒的相控陣檢測技術(shù)及評(píng)定方法

摘要

介紹軸承零件過燒缺陷常用檢測方法和相控陣超聲波（PAUT）檢測方法的特點(diǎn)。采用相控陣檢測技術(shù)，通過對(duì)收集的軸承零件疑似過燒缺陷相控陣圖像的對(duì)比分析，歸納出過燒缺陷的相控陣圖像特征多為較小的點(diǎn)狀、團(tuán)狀和條塊狀密集型缺陷，在材料內(nèi)部寬度和深度方向均有分布，并利用金相法等對(duì)相控陣圖像特征進(jìn)行了有效驗(yàn)證。結(jié)果表明，相控陣可以檢測過燒缺陷，并初步給出了采用對(duì)比試塊法對(duì)過燒缺陷進(jìn)行評(píng)定，過燒評(píng)定方法為：單個(gè)缺陷不小于φ0.5 mm當(dāng)量平底孔或密集型缺陷在25 mmx25 mm區(qū)域內(nèi)存在3個(gè)小于φ0.5 mm當(dāng)量平底孔的缺陷，判定為過燒。

軸承鋼一般都要進(jìn)行熱加工和熱處理，以獲得較高的韌性或其他特殊性能。當(dāng)軸承鋼的加熱溫度(接近熔化溫度)過高時(shí)奧氏體晶粒粗大，而且由于氧化性氣體滲入到晶界，使晶間物質(zhì)Fe，C，S發(fā)生氧化，形成易熔共晶體氧化物，在隨后的冷卻過程中晶界上產(chǎn)生富硫、富磷的燒熔層，并伴隨著形成硫化物和磷化鐵等脆性相的沉積，導(dǎo)致晶界嚴(yán)重弱化，這種現(xiàn)象稱為過燒。過燒的金屬由于晶間連接被破壞，強(qiáng)度和韌性大幅下降，常常一鍛即裂。

由于過燒造成的材料組織晶間破壞，會(huì)形成尺寸極小的孔洞缺陷，過燒缺陷的檢測一直是個(gè)難題。在軸承制造過程中面臨兩種情況：由于檢測不出缺陷造成過燒缺陷在產(chǎn)品中持續(xù)存在；一旦發(fā)現(xiàn)一件產(chǎn)品過燒，則整批產(chǎn)品報(bào)廢。這兩種情況均不利于企業(yè)的生產(chǎn)，這就要求提高檢測能力，杜絕以上情況發(fā)生。

1 軸承零件過燒缺陷的常規(guī)檢測方法

軸承零件過燒缺陷的常規(guī)檢測方法有：無損檢測，如磁粉探傷和常規(guī)超聲波探傷；破壞性檢測，如斷口和金相檢驗(yàn)等。

1.1 磁粉檢測

常用的鐵磁性材料，表面無損檢測多采用磁粉檢測方法。由于過燒缺陷的外形特征多為點(diǎn)狀孔洞，磁粉檢測對(duì)此類缺陷不敏感，經(jīng)常會(huì)發(fā)生漏檢。

1.2 常規(guī)超聲波檢測

采用常規(guī)超聲波檢測過燒造成的孔洞缺陷時(shí)會(huì)造成缺陷回波散射，接收到的回波信號(hào)很少，缺陷信號(hào)很弱，容易被誤認(rèn)為是雜波而被漏判；由于許多過燒缺陷尺寸很小，而常規(guī)超聲波受限于探頭頻率，小于半波長的缺陷檢測不到。

1.3 斷口檢驗(yàn)

斷口檢驗(yàn)是宏觀檢驗(yàn)中常用的方法，是反映產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段之一。過燒斷口特征表現(xiàn)為無金屬光澤、淺灰色、有棱角，類似碎石塊狀。從斷口圖像看，缺陷的表面不規(guī)整，輕微時(shí)可見少數(shù)幾點(diǎn)，嚴(yán)重時(shí)可布滿整個(gè)斷口。某軸承滾子過燒斷口顯微圖像如圖1所示。

圖1 滾子過燒斷口的掃描電鏡圖像

Fig.1 Scanning electron microscope image of overburning fracture for roller

1.4 金相檢驗(yàn)

金相檢驗(yàn)是控制軸承零件內(nèi)在質(zhì)量的重要手段，包括宏觀檢驗(yàn)與微觀檢驗(yàn)。某軸承滾子100倍過燒顯微金相圖像如圖2所示，過燒組織晶粒異常粗大，整個(gè)晶界層燒熔，在三角晶界處出現(xiàn)明顯的燒熔孔洞，呈黑色晶界網(wǎng)絡(luò)。

圖2 滾子過燒的金相組織形貌

Fig. 2 Metallographic structure of overburning for roller

1.5 小結(jié)

以上方法中，磁粉檢測和超聲波檢測有局限性，斷口檢驗(yàn)和金相檢驗(yàn)效率低且屬于破壞性檢驗(yàn)，因此，需考慮采用更可靠和效率更高的方法來檢測過燒缺陷。

2 超聲相控陣檢測的特點(diǎn)

超聲相控陣是近年來發(fā)展起來的一門新的工業(yè)無損檢測技術(shù)，通過對(duì)探頭各陣元的有序激勵(lì)可得到靈活的偏轉(zhuǎn)及聚焦聲束,聯(lián)合線性掃查、扇形掃查、動(dòng)態(tài)聚焦等獨(dú)特的工作方式，使其比常規(guī)超聲檢測具有更快的檢測速度和更高的靈敏度。與常規(guī)超聲波檢測相比，相控陣檢測具有以下明顯的優(yōu)點(diǎn)：

1)相控陣技術(shù)除具有一般超聲波的A掃外，又增加了B掃、C掃、D掃、S掃，特別是形成了具有可視化的S掃，增加了缺陷的直觀性，對(duì)缺陷易見易判。

2)相控陣探頭的單個(gè)晶片尺寸很小，使超聲場的近場區(qū)很小。相控陣探頭既能探測較深的部位，又能檢測近表面部位，彌補(bǔ)了直探頭和雙晶探頭的不足。

3)相控陣探頭頻率可達(dá)6 MHz以上，甚至可以達(dá)到20 MHz或更高,高頻率探頭的使用，使對(duì)小缺陷超聲波檢測成為可能。相控陣探頭的聚焦性能，有助于提高對(duì)缺陷的識(shí)別能力。

3 過燒缺陷的相控陣檢測圖像特征

為探索過燒缺陷的超聲波特征，采用超聲相控陣探傷儀對(duì)確定內(nèi)部存在過燒的軸承零件進(jìn)行掃查，探頭采用10 MHz相控陣探頭，采集了多個(gè)過燒缺陷超聲波圖像，按照嚴(yán)重程度表現(xiàn)的特征歸納如下：1)密集點(diǎn)狀形態(tài)過燒缺陷(圖3)，程度一般；2)團(tuán)狀形態(tài)過燒缺陷(圖4)，程度較重；3)條塊狀形態(tài)過燒缺陷(圖5)，程度嚴(yán)重。

圖3 過燒缺陷相控陣檢測點(diǎn)狀形態(tài)

Fig.3 Point-like morphology of phased array detection of overburning defects

圖4 過燒缺陷相控陣檢測團(tuán)狀形態(tài)

Fig.4 Agglomerate-like morphology of phased array detec-tion of overburning defects

圖5 過燒缺陷相控陣檢測條塊狀形態(tài)

Fig.5 Strip-like morphology of phased array detection of overburning defects

對(duì)圖3—圖5的點(diǎn)狀、團(tuán)狀、條塊狀的部位進(jìn)一步做金相檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)都具有過燒缺陷的顯微組織特征，但相控陣檢測比金相法方便、快捷，檢測效率高，且為非破壞性檢測，更能適應(yīng)生產(chǎn)。

從超聲相控陣圖像上看，過燒缺陷多為較小的點(diǎn)狀、團(tuán)狀、條塊狀密集型缺陷，在材料內(nèi)部寬度和深度方向均有分布。過燒缺陷多是密集小缺陷,為發(fā)現(xiàn)缺陷必須采用高頻率探頭，提高檢測的靈敏度。而常規(guī)超聲波探頭頻率一般低于6 MHz，檢測的靈敏度較低，很難發(fā)現(xiàn)此類缺陷，易造成漏檢。

4 相控陣技術(shù)檢測過燒的可行性

軸承零件中密集型內(nèi)部缺陷為過燒、白點(diǎn)和疏松等，檢測到的相控陣圖像特征見表1。從相控陣圖像特征上，可初步判斷出密集型缺陷的性質(zhì)。

表1 軸承零件密集型內(nèi)部缺陷相控陣圖像特征

Tab.1 Phased array image features of intensive internal de-fects of bearing parts

隨著超聲相控陣技術(shù)的開發(fā)和運(yùn)用，因其高頻、聚集等特點(diǎn)，過燒缺陷檢測難點(diǎn)得到了很好的解決，使過燒缺陷的檢測具有可行性。使用相控陣探頭與常規(guī)超聲波探頭檢測過燒缺陷的效果比較見表2。

表2 相控陣探頭與常規(guī)超聲波探頭檢測過燒缺陷的效果比較

Tab.2 Comparison of effects of phased array probe and con-ventional ultrasonic probe for detecting overburning defects

5 軸承內(nèi)部過燒的相控陣檢測評(píng)定探討

根據(jù)過燒缺陷的特點(diǎn)及危害，宜從嚴(yán)控制，盡可能發(fā)現(xiàn)小當(dāng)量的缺陷。結(jié)合相控陣儀器、探頭和試塊等綜合檢測能力，并綜合實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，提出了過燒缺陷定量方法以及評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)。

1)過燒缺陷的定性。

對(duì)內(nèi)部缺陷特征為密集點(diǎn)狀、團(tuán)狀和條塊狀等密集型缺陷，考慮到軸承使用的安全性，按照過燒缺陷評(píng)判，有爭議時(shí)，采用金相法進(jìn)行解剖分析定性。

2)過燒缺陷定量方法。

采用對(duì)比試塊法，考慮到內(nèi)部過燒缺陷常常體積較小，從單個(gè)缺陷定量和密集型缺陷定量兩方面考慮，綜合實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，級(jí)別定為φ0.5 mm當(dāng)量平底孔。

3)過燒缺陷的評(píng)定：若單個(gè)缺陷不小于φ0.5 mm當(dāng)量平底孔或密集型缺陷在25 mmx25 mm區(qū)域內(nèi)存在3個(gè)小于φ0.5 mm當(dāng)量平底孔的缺陷，均判定為過燒。

（來源：軸承雜志社）

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